10/26/2026 | Press release | Distributed by Public on 10/25/2026 22:49
〈 概要 〉
本イベントでは、国家プロジェクトにも携わる半導体分野の第一人者である東京都市大学の三谷祐一郎先生をお招きし、最先端半導体研究の現状や量産化に向けた課題、今後の展望についてご講演いただきます。また、技術セミナーでは、静特性評価の基礎から測定ノウハウ、信頼性試験・並列試験の実装手法、ウエハ・チップレベルのプロービング技術まで、基礎から実践まで幅広くご紹介します。さらに、実機展示や個別相談を通じて、最新技術の情報収集と現場課題の解決に役立つ知見を効率よく得られる機会です。ぜひご同僚やチームメンバーの皆様とご参加いただき、研究・開発業務にお役立てください。
講演、実機展示、個別相談を通じて、知識のアップデートと課題解決のヒントを効率よく得られる機会となっております。ぜひご同僚や部下の方もお誘い合わせの上、ご参加いただき、今後の研究・開発業務にお役立てください。
〈 タイムテーブル 〉
10:00~11:00
AI時代のデバイス高信頼化を支える測定・解析技術の最前線
東京都市大学 電気電子通信工学科 三谷 祐一郎 先生
11:20~12:20
【技術セミナ】 半導体静特性評価に使われる計測器とよくある質問Top5
テクトロニクス/ケースレー アプリケーションエンジニア 宮尾 豊 様
12:20~14:00
昼食休憩(ランチ提供)&ミニセミナ
14:00~15:00
【技術セミナ】 信頼性試験と並列試験の実装手法
テクトロニクス/ケースレー アプリケーションエンジニア 宮本 純一 様
15:10~15:40
【技術セミナ】 ウェハ/チップレベルでのプロービングにおける課題と解決
株式会社アポロウェーブ 仲山 洋輔 様
15:40~16:00
個別相談会&HAPPY HOUR
〈 お申込み 〉
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