Endo Scientific Instrument Co Ltd

10/15/2026 | Press release | Distributed by Public on 10/14/2026 19:58

エスペック信頼性セミナー2026 半導体パッケージ、パワー半導体向けの信頼性評価技術の最新動向

〈 概要 〉

近年、先端半導体パッケージやパワー半導体の高性能化に伴い、熱や信頼性に関する評価技術の重要性がますます高まっています。
このたび「エスペック信頼性セミナー2026」では、先端半導体における信頼性課題と評価技術、ならびに次世代パワーデバイスを支えるエスペックの熱・信頼性評価技術についてご紹介いたします。
ご多用とは存じますが、ぜひご聴講賜りますようお願い申し上げます。皆様のお申し込みを心よりお待ちしております。

〈 講演概要 〉

[招待講演1]
パワーモジュール熱設計を支える計測連携シミュレーションの紹介
発表:株式会社先端力学シミュレーション研究所
技術開発部 基盤技術開発室室長 前沢 祐 様

《概要》
小型化・高密度化が進むパワーモジュールでは、放熱性能と信頼性の両立が重要で す。本講演では、実測が難しい内部の温度・変形・熱応力を可視化するシミュレーシ ョンの基本から、寿命評価への応用までを分かりやすく解説します。さらに計測結果と の連携によりシミュレーション精度を向上させるアプローチと、動作中の実機モジュール の変形をミクロン単位で同定したシミュレーションによる内部評価の事例を紹介します。

[一般講演]
次世代パワーデバイスを支えるエスペックの熱・信頼性評価技術
発表:エスペック株式会社 カスタム機器本部 SI部
開発設計グループ リーダー 菅 則人 様

《概要》
次世代パワーデバイスでは、低熱抵抗化や高出力化により、熱設計と信頼性評価の 重要性がますます高まっています。本セミナーでは、豊富な導入実績を有するパワーサ イクル試験装置に加え、過渡熱抵抗測定・構造関数による熱構造解析技術への取 り組みを紹介し、デバイス開発・品質評価を支えるソリューションをご提案します。

[招待講演2]
先端半導体パッケージ・パワー半導体における信頼性課題と評価技術
発表:大阪大学 産業科学研究所
フレキシブル 3D 実装協働研究所 吉田 浩芳 様

《概要》
AI・HPC の進展に伴い、チップレットなど先端半導体パッケージの信頼性確保が重 要となっている。一方、車載パワーデバイスに代表されるパワー半導体パッケージでも 信頼性評価技術が進展している。本講演では、ロードマップ等から技術動向と今後 の課題を概説し、品質検査、通電を伴う信頼性評価、故障解析などの評価技術と 最新の標準化動向について解説します。

〈 お申込み 〉

  • 開催日程:2026年11月25日(水) 13:30~16:30
  • 締切日 :2026年11月18日(水)
  • 開催方式:オンライン開催(事前申し込みが必要です)
  • 受講料:無料
    ※先着順での受付となりますのでお早めにお申し込みください。

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Endo Scientific Instrument Co Ltd published this content on October 15, 2026, and is solely responsible for the information contained herein. Distributed via Public Technologies (PUBT), unedited and unaltered, on October 15, 2026 at 01:58 UTC. If you believe the information included in the content is inaccurate or outdated and requires editing or removal, please contact us at [email protected]